基本参数:温度下线:-150℃,-100℃,-50℃,室温
温度上限: 200℃,400℃,500℃
测试电流:>1pA
电压:< 1000V
电阻:微欧~ 10P欧
测试材料:介质陶瓷,薄膜,金属,半导体等
测试方式:四探针法
更多详情请前往:
https://www.chem17.com/st503299/erlist_2355583.html
http://www.shtgzntech.com/SonList-2355583.html
基本参数:温度下线:-150℃,-100℃,-50℃,室温
温度上限: 200℃,400℃,500℃
测试电流:>1pA
电压:< 1000V
电阻:微欧~ 10P欧
测试材料:介质陶瓷,薄膜,金属,半导体等
测试方式:四探针法
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